Máy dò lớp phủ Low-E một tấm EDTM AE3600

Hãng sản xuất: EDTM
Model: AE3600
Xuất xứ: Mỹ
Bảo hành: 12 tháng
Thông số kỹ thuật Máy dò lớp phủ Low-E một tấm EDTM AE3600
Giảm thiểu sai sót tốn kém trong sản xuất
Xác định lớp phủ Low-E tại hiện trường
Kiểm tra cả hai bề mặt của kính một lớp bằng một lần thử nghiệm từ một mặt duy nhất.
Không sử dụng chốt tiếp xúc. Không có khả năng làm xước bề mặt kính bằng AE3600.
Kiểm tra kính nguyên khối hoặc kính được lắp vào cụm cửa sổ hai lớp.
Phạm vi độ dày 13mm (1/2 inch)
Pin kiềm 9V bền lâu và dễ thay thế.
Đèn báo pin yếu bảo vệ chống lại các phép đo sai.
Phát hiện lớp phủ Surface 4 mới mà không làm xước lớp cách điện.
Công nghệ vi xử lý cho phép kiểm tra kính của nhà máy được phủ hạt phân cách.
Nút nhấn tạm thời giúp kéo dài tuổi thọ pin.
Chất lượng công nghiệp, thiết kế chắc chắn.
Tương thích với Pilkington OptiView ™
Các tính năng khác:
AE3600 dễ sử dụng: Chỉ cần nhấn một nút, máy đo sẽ kiểm tra cả hai bề mặt kính bằng một lần thử duy nhất từ ​​một phía. Các máy đo cạnh tranh yêu cầu nhiều phép đo và một quy trình loại trừ để kiểm tra cả hai mặt của một tấm kính.
Chỉ báo pin yếu bảo vệ chống lại các kết quả đọc sai tốn kém.
AE3600 có thể xác định chính xác lớp phủ Low-E trên bề mặt 2 của kính dày tới 13mm hoặc 1/2″